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  • X-RAY臺式測厚儀XDL / XDLM / XDAL
    X-RAY臺式測厚儀XDL / XDLM / XDAL

    X-RAY臺式測厚儀XDL / XDLM / XDAL XDL / XDLM / XDAL 憑借電機驅(qū)動(可選)與自上而下的測量方向,XDL® 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器

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  • X-RAY XDL210熒光測厚儀
    X-RAY XDL210熒光測厚儀

    X-RAY XDL210熒光測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

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  • FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀
    FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀

    FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀 FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。

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  • 菲希爾X-RAY熒光測厚儀各種材料分析儀器
    菲希爾X-RAY熒光測厚儀各種材料分析儀器

    菲希爾X-RAY熒光測厚儀各種材料分析儀器 X 射線熒光分析儀器,具有的精度與廣泛的適用性。FISCHER 產(chǎn)品包含了滿足不同領(lǐng)域測試需求的高性能儀器。

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  • FISCHERSCOPE進口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210
    進口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210

    進口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210 XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。X射線熒光光譜儀,用于對保護和裝飾涂料,量產(chǎn)的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量

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