FISCHERSCOPE進(jìn)口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210的詳細(xì)資料：

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀簡介：

        FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。zui多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

        XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。X射線熒光光譜儀，用于對保護(hù)和裝飾涂料，量產(chǎn)的零件和印制板上的涂層進(jìn)行手動或自動厚度測量。菲希爾熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210適合鍍層厚度測量的耐用儀器，即使大測量距離也可以測量（DCM，范圍0-80mm）。配備一個固定的準(zhǔn)直器和固定的濾片。適合測量點(diǎn)在1mm以上的應(yīng)用；跟XUL類似。可選用自動測量的可編程工作臺.

篤摯儀器（上海）有限公司是從事測試儀器儀表設(shè)備的代理、銷售和服務(wù)的專業(yè)性公司。與國內(nèi)外著名儀表生產(chǎn)廠商有著廣泛的技術(shù)與銷售合作的良好基礎(chǔ)，秉承“誠信、進(jìn)取、團(tuán)結(jié)、創(chuàng)新”的企業(yè)精神，廣泛服務(wù)于國內(nèi)科研、教育、工業(yè)、醫(yī)療和政府機(jī)構(gòu)。

熒光鍍層分析儀XDL 210特征:

• 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。Z高工作條件:50KV,50W
• X射線探測器采用比例接收器
• 準(zhǔn)直器：固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
• 基本濾片：固定或3個自動切換
• 測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
• 固定樣品支撐臺 ，手動XY工作臺
• 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置?？潭染€經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實際測量點(diǎn)大小。
• 設(shè)計獲得許可，防護(hù)全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域:

• 大批量電鍍件測量
• 防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
• 電鍍行業(yè)槽液分析
• 線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
• 測量接插件和觸點(diǎn)的鍍層
• 電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
• 黃金，珠寶和手表行業(yè)

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設(shè)計理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣品平臺的運(yùn)行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號的儀器以滿足實際應(yīng)用的需求。XDL210：平面樣品平臺，固定的Z 軸系統(tǒng)
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能，可以定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進(jìn)度。配有馬達(dá)驅(qū)動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設(shè)計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。所有的操作，測量數(shù)據(jù)的計算，以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過強(qiáng)大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。