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FISCHERSCOPE XDAL237 x射線鍍層測厚儀 來自德國菲希爾的X射線熒光測量儀，帶有快速可編程的XY平臺和Z軸，可自動測量薄涂層厚度和進行材料分析。 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來測量SnPb焊層中的鉛含量。

菲希爾XDLM-pcb200代理 測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級、耐用型測量儀。用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的X射線熒光測量儀器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器是專門用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的堅固耐用的入門級儀器

菲希爾xulm-240 對于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來說，X射線源和接收器位于測量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡化了操作

菲希爾 X-RAY 能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。

菲希爾X-RAY XDV-µ SEMI全自動熒光分析儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI 是一款全自動測量系統(tǒng)。針對半導體行業(yè)復雜的 2.5D/3D 封裝應用中的微結(jié)構(gòu)質(zhì)量控制進行了優(yōu)化。全自動分析可避免損壞寶貴的晶圓材料。