產(chǎn)品搜索

產(chǎn)品目錄

聯(lián)系方式

篤摯儀器（上海）有限公司
聯(lián)系人：王存帆
地址：上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號(hào)5號(hào)樓311室
郵編：
郵箱：2181516286@qq.com

產(chǎn)品展示首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 德國(guó)Fischer菲希爾 > X-RAY測(cè)厚儀 > X-RAY臺(tái)式測(cè)厚儀XDL / XDLM / XDAL

X-RAY臺(tái)式測(cè)厚儀XDL / XDLM / XDAL

更新時(shí)間：	2024-09-27
報(bào) 價(jià)：

分享到：

X-RAY臺(tái)式測(cè)厚儀XDL / XDLM / XDAL
XDL / XDLM / XDAL
憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測(cè)量方向，XDL® 系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線(xiàn)源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線(xiàn)儀器

X-RAY臺(tái)式測(cè)厚儀XDL / XDLM / XDAL的詳細(xì)資料：

品牌	Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類(lèi)別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	電子,交通,冶金,航天,汽車(chē)

X-RAY臺(tái)式測(cè)厚儀XDL / XDLM / XDAL

特性：

X 射線(xiàn)熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測(cè)量任務(wù)
由于測(cè)量距離可以調(diào)節(jié)（大可達(dá) 80 mm），適用于測(cè)試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件
通過(guò)可編程 XY 工作臺(tái)與 Z 軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測(cè)試
使用具有高能量分辨率的硅漂移探測(cè)器，非常適用于測(cè)量超薄鍍層（XDAL 設(shè)備）

應(yīng)用：

鍍層厚度測(cè)量

大型電路板與柔性電路板上的鍍層測(cè)量
電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層
復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
鉻鍍層，如經(jīng)過(guò)裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測(cè)量

材料分析

電鍍槽液分析
電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析

公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立，自2008 年起由德國(guó)辛德芬根和瑞士休倫堡的 Helmut Fischer 基金會(huì)共同擁有。HELMUT FISCHER Holding AG 涂鍍層測(cè)厚、材料分析、微硬度測(cè)試和材料測(cè)試領(lǐng)域可以為您提供比較良好的解決方案。

Helmut Fischer主要產(chǎn)品：Helmut Fischer測(cè)試樣片、Helmut Fischer涂層測(cè)厚儀、Helmut Fischer X射線(xiàn)熒光測(cè)量?jī)x、Helmut Fischer微硬度測(cè)試儀、Helmut Fischer鐵素體儀、Helmut Fischer氧化膜密閉性測(cè)試儀、Helmut Fischer電導(dǎo)率測(cè)試儀等。

　如果你對(duì)X-RAY臺(tái)式測(cè)厚儀XDL / XDLM / XDAL感興趣，想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息，填寫(xiě)下表直接與廠家聯(lián)系：