聯(lián)系人:王存帆
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Fischer多功能測(cè)厚儀測(cè)厚儀MMS
Fischer多功能測(cè)厚儀測(cè)厚儀 鍍鋅涂層以及鋼板上的涂料;鋁陽(yáng)極氧化涂層 納米涂層(防指紋),太陽(yáng)能電池涂層(薄膜層,CdTe /玻璃),插頭觸點(diǎn)上的金涂層,焊盤上的焊料,痕量分析,光敏涂層,油和蠟層 測(cè)量電路板表面和通孔上的銅涂層 層壓板或多層的銅厚度,不受電路板制造中的銅涂層
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手持式DUALSCOPE FMP40膜厚測(cè)量?jī)x
手持式DUALSCOPE FMP40膜厚測(cè)量?jī)x 該手持儀器用于測(cè)量所有金屬上的涂層厚度,即非破壞性。 該儀器具有許多功能,包括自動(dòng)基板材料識(shí)別和圖形測(cè)量顯示。后者作為具有高斯貝爾曲線的直方圖。 它還提供過程容限限制的輸入選項(xiàng)和相關(guān)過程能力指標(biāo)cp和cpk的計(jì)算。 如果超過公差設(shè)定限制,則可以給出聲音和視覺警告。
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Fischer測(cè)厚儀Couloscope CMS2 STEP
Fischer測(cè)厚儀Couloscope CMS2 STEP 除了與COULOSCOPE CMS2相對(duì)應(yīng)的涂層厚度測(cè)量之外,COULOSCOPE CMS2 STEP還提供了根據(jù)ASTM B764 - 94和DIN 50022進(jìn)行STEP測(cè)試測(cè)量的功能.COULOSCOPE CMS2 STEP非常適合測(cè)量單個(gè)涂層厚度和電位 多種鎳涂層以簡(jiǎn)單的標(biāo)準(zhǔn)符合方式的差異。
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Fischer PHASCOPE PMP10
Fischer PHASCOPE PMP10 PHASCOPE PMP10是一款根據(jù)相位感度渦流方法快速,手持式儀器,用于非破壞性的測(cè)量多種基材上的,包括小型結(jié)構(gòu)和粗糙表面上的導(dǎo)電涂層的厚度。簡(jiǎn)便和現(xiàn)場(chǎng)的測(cè)量鍍層厚度的手提式儀器。通過選擇合適的測(cè)量探頭,甚至可以達(dá)到非接觸式的測(cè)量。
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FISCHERSCOPE MMS臺(tái)式測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS臺(tái)式測(cè)厚儀: 在所有行業(yè),作為其現(xiàn)代設(shè)計(jì)的結(jié)果,MMS 可以隨時(shí)適應(yīng)您的需求并擴(kuò)展。 無論涂層厚度,電導(dǎo)率還是鐵素體含量,使用MMS,您將始終正確地進(jìn)行測(cè)量。 MMS用于所有測(cè)量應(yīng)用的一種測(cè)量?jī)x器。
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