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DualScope MPOR

DualScope MPOR

更新時(shí)間:2024-09-25
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DualScope MPOR:DUALSCOPE MP0R采用根據(jù)DIN EN ISO 2360,ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178,ASTM B499電磁感應(yīng)方法,被用來測量非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導(dǎo)電涂層在鐵或鋼上的厚度。儀器能自動(dòng)地識別被測材料并選擇適合的測試方法。

DualScope MPOR的詳細(xì)資料:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾

DualScope MPOR

 

    用戶可以根據(jù)測量的需要選用不同的測厚儀,磁性測厚儀和渦流測厚儀一般測量的厚度適用0-5毫米,這類儀器又分探頭與主機(jī)一體型,探頭與主機(jī)分離型,前者操作便捷,后者適用于測非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測厚儀來測,測量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測厚儀適合測量很細(xì)的線上面電鍍的金,銀等金屬的厚度。

    對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等,在有關(guān)和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項(xiàng)目中,對覆層厚度有了明確的要求。覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。

 

DualScope MPOR

   采用根據(jù)DIN EN ISO 2360,ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178,ASTM B499電磁感應(yīng)方法,被用來測量非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導(dǎo)電涂層在鐵或鋼上的厚度。儀器能自動(dòng)地識別被測材料并選擇適合的測試方法。
DUALSCOPE MP0R USB 理想的適合于測量:
非鐵金屬鍍層(例如:鉻,銅,鋅等)在鐵或鋼上。
油漆、臘克和合成涂層在鐵或鋼上。
非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上,例如:油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上。
 

介紹

為快速且簡便測量而設(shè)計(jì)。這一款經(jīng)濟(jì)型的儀器可以準(zhǔn)確地和方便地在2個(gè)液晶顯示器上顯示鍍層厚度的讀數(shù):一塊大的位于前部面板,另一塊位于上部面板。它*的符合人類工程學(xué)設(shè)計(jì)的集成于儀器的恒壓測量探頭允許方便地單手操作,可以進(jìn)行測量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)評估以及在10-20 m(33-66 feet)的距離范圍內(nèi)將測量數(shù)據(jù)在線或離線的無線傳輸至計(jì)算機(jī)的內(nèi)置無線電發(fā)射器。


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