Fischer進(jìn)口DualScope FMP40測厚儀的詳細(xì)資料：

Fischer進(jìn)口DualScope FMP40測厚儀

基本參數(shù)

菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀 能夠自動識別底材材料并且集成了兩種測量方法，使這個系列的儀器可以測量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀由于集合了兩種測量方法，這個系列的儀器還能夠在一次測量過程中同時測得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來。

菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法。
菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀采用的磁感應(yīng)方法：
菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀通過探頭的激勵電流產(chǎn)生一個低頻磁場區(qū)域，該磁場的強度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀探頭測量線圈捕獲這個放大信號，然后通過儲存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將信號轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度。
應(yīng)用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。
菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀采用的電渦流方法：
菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀通過探頭的激勵電流產(chǎn)生一個高頻初級磁場區(qū)域，該磁場在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級磁場區(qū)域削弱初級磁場區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過儲存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來。

Fischer進(jìn)口DualScope FMP40測厚儀

菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.

自動識別底材

DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀能夠通過外部觸發(fā)測量（例如：測量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）

使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法）

 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀配備 USB接口可以連接計算機和打印機

膜厚儀能夠手動糾正已儲存的讀數(shù)

膜厚儀包含應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個應(yīng)用程式能使用相同的歸一化/校準(zhǔn)信息

通過電腦計算機可以編輯應(yīng)用程式名稱（可選件：MP-Name軟件）

擁有數(shù)據(jù)組統(tǒng)計值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計值

菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀能夠展現(xiàn)測量數(shù)據(jù)直方圖顯示