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菲希爾測厚儀探頭 FAW3.3

菲希爾測厚儀探頭 FAW3.3

更新時(shí)間:2024-09-22
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菲希爾測厚儀探頭 FAW3.3:任何一個(gè)電磁測量系統(tǒng)的核心都會(huì)是探頭,其信號質(zhì)量Z終決定了計(jì)量方案的整體測量質(zhì)量。 進(jìn)過多年的研發(fā)和創(chuàng)新,F(xiàn)ISCHER現(xiàn)在擁有超過100種探頭,可以在各種測量任務(wù)中實(shí)現(xiàn)具有Z高。

菲希爾測厚儀探頭 FAW3.3的詳細(xì)資料:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾

菲希爾測厚儀探頭 FAW3.3

菲希爾測厚儀探頭 FAW3.3:任何一個(gè)電磁測量系統(tǒng)的核心都會(huì)是探頭,其信號質(zhì)量zui終決定了計(jì)量方案的整體測量質(zhì)量。 進(jìn)過多年的研發(fā)和創(chuàng)新,F(xiàn)ISCHER現(xiàn)在擁有超過100種探頭,可以在各種測量任務(wù)中實(shí)現(xiàn)具有zui高。

 

一次測量的質(zhì)量,主要由幾個(gè)關(guān)鍵因素決定。包括:選擇適當(dāng)?shù)奶筋^和探頭本身的質(zhì)量等。Helmut FischerGmbH為您提供種類繁多而又品質(zhì)的高精度探頭,所有探頭都是按照zui高的品質(zhì)要求自行開發(fā)和生產(chǎn)。

鍍層/底材的種類是選擇探頭zui重要的依據(jù)。另外,鍍層的大致厚度、底材的材料、測量點(diǎn)的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時(shí)需要考慮的因素。曲率補(bǔ)償探頭(渦流法)適用于不同曲面的樣品;雙觸點(diǎn)探頭能夠在粗糙的表面上得到的結(jié)果。FMP10、FMP20、FMP30、FMP40型儀器都可以通過連接不同的探頭來滿足您不同的測量需求。

產(chǎn)品特點(diǎn):

  • FISCHER 探頭極為堅(jiān)固并且耐磨損,即使在堅(jiān)硬表面、經(jīng)過百萬次的測量,仍然可以長時(shí)間地給出測量結(jié)果.
  • 所有探頭都是按照zui高的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn),自主研發(fā)和生產(chǎn)的.
  • 出廠前對每一個(gè)探頭,在多個(gè)厚度點(diǎn)都進(jìn)行了精心的校準(zhǔn),從而確保了zui高的度
  • FISCHER擁有電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù),應(yīng)用于所有電渦流法探頭中,可以對不同電導(dǎo)率基材進(jìn)行修正,如各種鋁合金等,節(jié)省了在現(xiàn)場對實(shí)際基材校準(zhǔn)的時(shí)間,并仍能實(shí)現(xiàn)*的準(zhǔn)確度.
  • 設(shè)計(jì)了特殊的電渦流法探頭,在測量彎曲的物體時(shí)可以自動(dòng)對曲率影響進(jìn)行補(bǔ)償.
  • FISCHER 專家能夠(根據(jù)需求)開發(fā)出特殊的探頭設(shè)計(jì),以便在測量時(shí)可以提供zui高的測量重復(fù)度和準(zhǔn)確性. 

基于幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的探頭選擇:

  • 涂層和基體材料的組合材料
  • 涂層和基體材料的厚度
  • 測量區(qū)域的尺寸
  • 樣品形狀
  • 測量面積的表面狀態(tài)

下面的圖表顯示了選擇探頭的標(biāo)準(zhǔn)流程。我們的探頭庫中擁有超過100種適合不同應(yīng)用的探頭,除此之
外,Helmut Fischer GmbH還能為您的應(yīng)用特別定制探頭。


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