Fischer菲希爾測(cè)厚儀DualScope FMP40規(guī)格的詳細(xì)資料：

Fischer菲希爾測(cè)厚儀DualScope FMP40規(guī)格

    菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀能夠自動(dòng)識(shí)別底材材料并且集成了兩種測(cè)量方法，使這個(gè)系列的儀器可以測(cè)量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。 菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀由于集合了兩種測(cè)量方法，這個(gè)系列的儀器還能夠在一次測(cè)量過程中同時(shí)測(cè)得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來。

DUALSCOPE FMP40涂鍍層測(cè)厚儀采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法。
磁感應(yīng)方法：
通過探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)低頻磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)的強(qiáng)度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。測(cè)量線圈捕獲這個(gè)放大信號(hào)，然后通過儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度。
應(yīng)用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。
電渦流方法：
通過探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，該磁場(chǎng)在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域削弱初級(jí)磁場(chǎng)區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來。

菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀特點(diǎn)

• FMP40涂層測(cè)厚儀自動(dòng)識(shí)別底材

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀能夠通過外部觸發(fā)測(cè)量（例如：測(cè)量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法）

• 菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀配備 USB接口可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀電池供電和交流電源(可選件)供電

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀可以儲(chǔ)存100個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀可以儲(chǔ)存 20,000 個(gè)讀數(shù)

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀可以儲(chǔ)存 4,000 個(gè)數(shù)據(jù)組

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀的數(shù)據(jù)組包含日期和時(shí)間信息

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀能夠手動(dòng)糾正已儲(chǔ)存的讀數(shù)

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀包含應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：多個(gè)應(yīng)用程式能使用相同的歸一化/校準(zhǔn)信息

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀能夠通過電腦計(jì)算機(jī)可以編輯應(yīng)用程式名稱（可選件：MP-Name軟件）

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀擁有數(shù)據(jù)組統(tǒng)計(jì)值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)值

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀能夠展現(xiàn)測(cè)量數(shù)據(jù)直方圖顯示

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀可輸入上下限公差并估算 cp 和 cpk值

•  菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀的測(cè)量結(jié)果超出公差范圍時(shí)儀器發(fā)出視覺和聲音警告

 菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.