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Couloscope CMS2多層鎳臺(tái)式測(cè)厚儀

Couloscope CMS2多層鎳臺(tái)式測(cè)厚儀

更新時(shí)間:2024-09-21
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Couloscope CMS2多層鎳臺(tái)式測(cè)厚儀
通過(guò)電位差測(cè)試儀器可以簡(jiǎn)便的對(duì)鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測(cè)量。 可以用于測(cè)量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。

Couloscope CMS2多層鎳臺(tái)式測(cè)厚儀的詳細(xì)資料:

品牌Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天,汽車(chē)

Couloscope CMS2多層鎳臺(tái)式測(cè)厚儀

電解測(cè)厚儀原理
        電解測(cè)厚儀是利用法拉第原理設(shè)計(jì),其過(guò)程類似于電鍍,但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反,是電解除鍍。庫(kù)侖法測(cè)厚是對(duì)被測(cè)部分的金屬鍍層進(jìn)行局部陽(yáng)極溶解,通過(guò)陽(yáng)極溶解鍍層達(dá)到基體時(shí)的電位變化及所需時(shí)間來(lái)進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量。

Couloscope CMS2測(cè)厚儀應(yīng)用:

測(cè)量法對(duì)多層涂鍍層系統(tǒng)的電位差測(cè)試,以及用于金屬或非金屬基材上所有的金屬涂鍍層的庫(kù)侖電量涂鍍層厚度測(cè)量(單層或多層系統(tǒng))

菲希爾 COULOSCOPE® CMS STEP 電位差測(cè)試儀

電位差測(cè)試儀特點(diǎn)

    該多層鎳測(cè)厚儀器根據(jù)庫(kù)侖電量分析法進(jìn)行測(cè)量,符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標(biāo)準(zhǔn)

 

    通過(guò)電位差測(cè)試儀器可以簡(jiǎn)便的對(duì)鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測(cè)量。 可以用于測(cè)量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。
 

電位差測(cè)試儀典型應(yīng)用領(lǐng)域

    涂層部件的進(jìn)貨檢驗(yàn),例如汽車(chē)工業(yè)中的鍍鉻鑲邊(帶有雙層鎳)

電位差測(cè)試相關(guān)知識(shí)介紹

  電位差,也稱作電勢(shì)差或電壓,是衡量單位電荷在靜電場(chǎng)中由于電勢(shì)不同所產(chǎn)生的能量差的物理量。電位差的單位制為伏特(V,簡(jiǎn)稱伏),常用的單位還有毫伏(mV)、微伏(μV)、千伏(kV)等。此概念與水位高低所造成的“水壓”相似。需要指出的是,“電壓”一詞一般只用于電路當(dāng)中,“電勢(shì)差”和“電位差”則普遍應(yīng)用于一切電現(xiàn)象當(dāng)中。

  


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