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FISCHER膜厚儀的使用場景及工作原理
點擊次數(shù)：910 更新時間：2023-02-08 打印本頁面 返回
鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。
FISCHER膜厚儀采用磁性測厚方法，可無損傷檢測磁性金屬基體（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。儀器廣泛地應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
在工業(yè)生產(chǎn)中，很多環(huán)節(jié)都需要檢查電鍍層質(zhì)量，其檢查的內(nèi)容包括鍍層的外觀、厚度、與基體金屬的結(jié)合力、延展性、顯微硬度、脆性、耐蝕性、耐磨性、可焊性等。
雖然具體質(zhì)量檢查的內(nèi)容因零件和鍍層而異，但鍍層的外觀、厚度、耐蝕性和與基體金屬的結(jié)合力是所有鍍層都必須檢查的內(nèi)容。
電鍍層的質(zhì)量檢查方法和評判標(biāo)準(zhǔn)，在每個國家有各自制定的國家標(biāo)準(zhǔn)，也有統(tǒng)一的國際標(biāo)準(zhǔn)，甚至不同的企業(yè)也制定有相應(yīng)的企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
FISCHER膜厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。
同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。
