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Elektrophysik代理GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀
更新時(shí)間: | 2024-09-26 |
報(bào) 價(jià): |
Elektrophysik代理GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀,應(yīng)用電解庫(kù)倫法原理,儀器設(shè)有電解液報(bào)警/飽和指示器,顯示涂層上測(cè)量電池電壓電平的打印輸出圖;儀器自主指令無需操作者學(xué)習(xí)專業(yè)知識(shí),該測(cè)厚儀可以用于測(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度。特別適用于檢測(cè)涂層和基材之間的合金區(qū)域,測(cè)量基體包括鋼鐵、
Elektrophysik代理GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀的詳細(xì)資料:
品牌 | ElektroPhysik/德國(guó)EPK | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬-2萬 |
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Elektrophysik代理GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀
篤摯儀器(上海)有限公司經(jīng)過多年的經(jīng)營(yíng)建立了完善的產(chǎn)品體系。通過傳統(tǒng)渠道和互聯(lián)網(wǎng)渠道相結(jié)合的方式,形成了完整的營(yíng)銷脈絡(luò),使貿(mào)易方式更加高效豐富。篤摯儀器(上海)有限公司把優(yōu)質(zhì)服務(wù)視為企業(yè)的生命,為使廣大用戶享受完整的配套服務(wù), 完善的技術(shù)咨詢及*的售后服務(wù), 多年來產(chǎn)品服務(wù)不斷升級(jí),得到廣大用戶的*好評(píng)!!歡迎大家來我們公司實(shí)地考察!
德國(guó)EPK (Elektrophysik)公司GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀利用庫(kù)侖電量分析原理,測(cè)量鍍層、多層鍍層厚度。德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 2000,應(yīng)用庫(kù)侖電量分析原理。其過程類似于電鍍,但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反,是電解除鍍??梢杂糜跍y(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度?;w包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。測(cè)量時(shí)只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬,而基體不受影響。
GalvanoTest 2000: 電解液靠波輪式噴嘴提供動(dòng)力,庫(kù)侖法確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠,儀器使用簡(jiǎn)便。測(cè)量操作由儀器的指令自主完成,操作者不需要專業(yè)知識(shí)。設(shè)計(jì)為*易用,GalvanoTest 2000不需要特定的操作員技能,只有zui少的培訓(xùn)才能進(jìn)行實(shí)際測(cè)量。
測(cè)量方法:陽(yáng)極溶解的方法,也稱為法拉第的電量的方法,在電鍍工藝的線路上運(yùn)作:通過電解質(zhì)的電流從襯底上分離單個(gè)金屬涂層。通過分別測(cè)量電流和時(shí)間的電化學(xué)測(cè)試確定涂層的厚度。庫(kù)侖法原理是測(cè)量多層系統(tǒng)的各個(gè)層的低成本方法,例如鉻和鎳加銅在鋼上一個(gè)接一個(gè)地測(cè)量。 連接到MiniPrint數(shù)據(jù)打印機(jī),GalvanoTest提供測(cè)量結(jié)果和統(tǒng)計(jì)的完整文檔。 對(duì)于特定的測(cè)量分析或以后的參考,也可以打印去鍍過程中的特征電壓曲線。GalvanoTest 精密測(cè)厚儀,測(cè)量涂層厚度的設(shè)備,根據(jù)庫(kù)侖法原理,用于幾乎所有電鍍單層或多層涂料:電鍍涂層如鉻、鎳、鎘、銅、黃銅、銀、金、錫、鋅可以測(cè)量金屬或非金屬。
特點(diǎn):
可以測(cè)量70種以上鍍層/基體組合
可以測(cè)量平面、曲面上的鍍層
可以測(cè)量小零件、導(dǎo)線、
用戶可另設(shè)置1種金屬的測(cè)量參數(shù)
預(yù)置9種金屬的測(cè)量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。
測(cè)量電池電壓曲線
特性測(cè)量電池電壓曲線的打印圖形地表示在測(cè)量結(jié)束時(shí)其典型的電壓跳躍的測(cè)量過程。 電壓跳變終止測(cè)量,厚度自動(dòng)顯示為微米或密耳。 去鍍區(qū)域的尺寸去鍍區(qū)域的尺寸可以使用隨附的墊圈或面罩定界。 下圖顯示了使用D-mask(0,25平方毫米)時(shí)劃分的測(cè)量區(qū)域的實(shí)際脫鍍面積大小以及微觀視圖。
存儲(chǔ)功能
可存儲(chǔ)不同金屬測(cè)量參數(shù)的數(shù)目
可存儲(chǔ)2000個(gè)讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值
儀器斷電后可保持所有校準(zhǔn)值、讀數(shù)、統(tǒng)計(jì)值。
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