QNix尼克斯測(cè)厚儀操作說(shuō)明的詳細(xì)資料：

尼克斯測(cè)厚儀操作說(shuō)明

尼克斯測(cè)厚儀操作說(shuō)明

儀器使用：

1.開機(jī)： 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí)，儀器將自動(dòng)開機(jī)。（使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面并壓實(shí)，禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動(dòng)探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測(cè)量后將儀器拿起，離開被測(cè)物 10cm 以上，再進(jìn)行下次測(cè)量。）
2.設(shè)置： 開機(jī)后按紅色按鍵進(jìn)入菜單，QNix4500 為 4 個(gè)選項(xiàng)，QNix4200 為 2 個(gè)選 項(xiàng)，
“Fe"為磁性金屬基體模式， “NFe"為非磁性金屬基體模式（僅 QNix4500）， “Fe/NFe"為自動(dòng)識(shí)別基體模式（僅 QNix4500）， “取平均值"為儀器自動(dòng)顯示最后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量）。按紅鍵進(jìn)入菜單后，繼續(xù)按紅鍵進(jìn)行選擇，將光標(biāo)在選項(xiàng)上停留 2 秒后，進(jìn) 入所選項(xiàng)目。如在“Fe"選項(xiàng)上停留 2 秒后，儀器顯示Fe 測(cè)量模式，這時(shí)儀器進(jìn)入 Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe（非 磁性金屬基體）、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動(dòng)識(shí)別）模式下工作。
進(jìn)入“取平均值"選項(xiàng)后，儀器顯示取平均值，在“開"選項(xiàng)上停留 2 秒后，取平均值開啟，測(cè)量時(shí)顯示數(shù)據(jù)為zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測(cè)量），測(cè)量時(shí)在屏幕右上角出現(xiàn)“— X "符號(hào)時(shí)表示取平均值開啟，如不需要請(qǐng)關(guān)閉（在取平均值選項(xiàng)里選擇“關(guān)"）即可。

3.測(cè)量：

（1）調(diào)零：

儀器在測(cè)量前，應(yīng)在基體上取零位作基準(zhǔn)。建議用未噴涂的同一種工件表面 調(diào)零，因?yàn)椴牧现g導(dǎo)磁性和導(dǎo)電性不同，會(huì)造成一定誤差。 選擇相應(yīng) Fe 或 NFe 模式后，將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上，不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開，儀器依次顯示“零位參照、放置探頭"、 “零位參照，拿起探頭"或聽(tīng)到儀器響聲后，拿起儀器，出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽(tīng)到響 聲后，液晶顯示 0，調(diào)零完畢。

注意：由于工件表面粗糙度等原因，調(diào)零后，再測(cè)時(shí)不一定是的零位， 這是正?，F(xiàn)象。
（2）測(cè)量：

將儀器探頭垂直接觸被測(cè)物的表面，儀器將自動(dòng)測(cè)出并顯示數(shù)據(jù)。（建議用 拇指和食指拿住儀器凹槽處使用，分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用）

注意：測(cè)量時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面、并壓實(shí)，每測(cè)量一次后將 儀器拿起，離開被測(cè)物 10 ㎝以上，再進(jìn)行下一點(diǎn)測(cè)量。

4.注意事項(xiàng)和常見(jiàn)問(wèn)題： 1.測(cè)量應(yīng)為點(diǎn)接觸，嚴(yán)禁將探頭置于被測(cè)物表面滑動(dòng)。 2.出現(xiàn) INFI 時(shí)，有可能是由于測(cè)量基體選擇錯(cuò)誤造成的，請(qǐng)選擇測(cè)量基體 Fe、NFe 或自動(dòng)識(shí)別 Fe/NFe，如未能解決，可能是因?yàn)闇y(cè)量不同材料零位差距過(guò) 大造成，選擇正確測(cè)量基體重新調(diào)零即可。 3.因地區(qū)所用厚度單位不同，在中國(guó)銷售的 Qnix4500/4200 型使用的是 μm，因此屏蔽了英制單位 mil，有時(shí)因操作不當(dāng)激活 mil 單位，此時(shí)用戶只需復(fù) 位即可，復(fù)位過(guò)程為先把電池取下，然后按住紅鍵裝上電池，復(fù)位完成后松開紅 鍵即可。
5.顯示說(shuō)明： Fe：磁性基體模式 NFe：非磁性基體模式 INFI：基體選擇錯(cuò)誤或超出量程
電池電量低 ，請(qǐng)更換電池
電池電量極低，不能工作
Fe/NFe 基體自動(dòng)識(shí)別
— X：取平均值