DualScope FMP40兩用測(cè)厚儀全新上市的詳細(xì)資料：

DualScope FMP40兩用測(cè)厚儀全新上市

由于自動(dòng)基材識(shí)別和兩種測(cè)量方法的集成，這些通用儀器能夠測(cè)量鋼和鐵（F）和非鐵磁性金屬（NF）上的涂層。 可以同時(shí)測(cè)量鋼板上的雙相涂層（漆/鋅），并分別顯示漆和鋅涂層的值。DualScope FMP40兩用測(cè)厚儀全新上市

--便攜式儀器提供非破壞性，高精度測(cè)量

儀器特點(diǎn)： -
•外部按鍵觸發(fā)測(cè)量采集
•超過(guò)公差限制時(shí)的視覺(jué)和視覺(jué)警告
•選項(xiàng)藍(lán)牙或COM附加可用于默認(rèn)USB接口
測(cè)量應(yīng)用存儲(chǔ)： -
•多達(dá)100個(gè)測(cè)量應(yīng)用的應(yīng)用存儲(chǔ)器，包括 校準(zhǔn)
•內(nèi)存多達(dá)20,000張讀數(shù)
•將讀數(shù)分配到4,000個(gè)塊
•塊的日期和時(shí)間戳
•測(cè)量應(yīng)用的通用歸一化/校準(zhǔn)
•通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試測(cè)量驗(yàn)證校正校準(zhǔn)

測(cè)量方法和評(píng)估
•根據(jù)IMO PSPC，SSPC-PA2，QUALANOD和QUALICOAT存儲(chǔ)的測(cè)量規(guī)格
•能夠?qū)ο嚓P(guān)多點(diǎn)測(cè)量啟用矩陣測(cè)量模式
•測(cè)量數(shù)據(jù)的平均值：僅存儲(chǔ)幾個(gè)讀數(shù)的平均值
•通過(guò)面積測(cè)量進(jìn)行測(cè)量采集：捕獲單個(gè)讀數(shù)，直到探頭剝離并平均
•用于自動(dòng)消除錯(cuò)誤測(cè)量的異常值抑制設(shè)置
•自由運(yùn)行顯示，附加顯示讀數(shù)作為容差極限之間的模擬量
•統(tǒng)計(jì)顯示塊中zui重要的值和zui終結(jié)果。 輸出
方差分析值
•圖形測(cè)量顯示為直方圖
•輸入過(guò)程容限限制和相關(guān)過(guò)程能力指標(biāo)cp和cp的計(jì)算能力

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