聯(lián)系人：王存帆
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麥考特MIKROTEST G6磁性測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：
| 品牌 | ElektroPhysik/德國(guó)EPK |
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麥考特MIKROTEST G6磁性測(cè)厚儀
測(cè)量使用要求
1、在平面上測(cè)量
測(cè)量面方位對(duì)于測(cè)量沒(méi)有影響，注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的zui 小測(cè)量范圍和基體的厚度。
2、在曲面上測(cè)量 測(cè)量圓柱或圓形邊緣時(shí)，可以利用儀器測(cè)嘴上的 V 型口。測(cè)量凹面時(shí)與測(cè)量平面相同，但要注意zui小曲率的 限制。
3、在粗糙表面測(cè)量
在粗糙表面測(cè)量時(shí)，讀數(shù)將增大（特別是在顆粒尖上）。 在特別粗糙（如峰值超過(guò)50um 的鋼基體上，并且涂層厚度超過(guò) 100um 時(shí)，實(shí)際讀數(shù)高于涂層真實(shí)厚度達(dá)20％之多。在這種情況 下應(yīng)至少測(cè)量6 次以上，得出平均值。
4、檢查度
測(cè)厚儀裝有磁鋼，在正常使用時(shí)是不會(huì)發(fā)生變化的。通常只 需偶爾或在懷疑讀數(shù)的正確性時(shí)去測(cè)量厚度標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行調(diào)整。對(duì) 于這種測(cè)量可采用EPK 公司的厚度標(biāo)準(zhǔn)件。標(biāo) 準(zhǔn)板厚度表如表二所示。
MIKROTEST系列擁有多達(dá)9種型號(hào)：
MIKROTEST G6 MIKROTEST F6 MIKROTEST S3 MIKROTEST S5 MIKROTEST S10 MIKROTEST S20 MikroTest NiFe50 MikroTest Ni50 MikroTest Ni100
型 號(hào) | 測(cè)量范圍 | 讀值精度 | zui小測(cè)量區(qū)-直徑 | zui小半徑 凸 凹 mm mm | 基體zui小 厚度mm | 用于 |
MIKROTEST G 6 | 0－100μm | 1μm或5％讀值 | 20mm | 5 25 | 0.5 | 鋼鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層 |
MIKROTEST F 6 | 0－1000μm | 5μm或5％讀值 | 30mm | 8 25 | 0.5 |
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MIKROTEST 6 S3 | 0.2－3mm | 5％讀值 | 30mm | 15 25 | 1.0 |
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MIKROTEST 6 S5 | 0.5－5mm | 5％讀值 | 50mm | 15 25 | 1.0 |
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MIKROTEST 6 S10 | 2.5－10mm | 5％讀值 | 50mm | 15 25 | 2.0 |
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MIKROTEST 6 S20 | 7.5－20mm | 5％讀值 | 1000mm | 100 150 | 7.0 |
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MIKROTEST 6 Ni50 | 0- 50μm | 1μm+5%讀數(shù) | 15mm | 5 25 | - | 非鐵制基體上鍍鎳 |
MIKROTEST 6 Ni100 | 0- 100μm |
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MIKROTEST NIFE50 | 0－50μm | 2μm + 8％讀值 | 20mm | 10 25 | 0.5 | 鐵上電鍍鎳 |
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