DualScope MP0袖珍測厚儀校準的詳細資料:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 |
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DualScope MP0袖珍測厚儀校準
一、零位校準 歸一化
歸一化用來對測量儀器進行調(diào)整。歸一化需要未鍍過的底材,而且底材的形狀和物料必須和被測量的工件*。
說明:歸一化會刪除所有的內(nèi)存數(shù)據(jù)。
歸一化儀器 (前提: 儀器處于開啟狀態(tài))
- 按 [CAL]鍵. 顯示 "Base" (即 “未鍍過的底材”).
- 在底材上測量五次左右
每次測量后,會顯示當前的讀數(shù)。 - 按兩次[OK] 鍵.
屏幕顯示 “Er17”,忽略它。
完成歸一化程序。
二、 校準
校準需要有下面幾項東西:底材(形狀和底材物料要與待測部件*)和一片標準片(儀器隨機的75 µm左右標準片)。 說明:校準將刪除內(nèi)存中的所有讀數(shù)。
校準儀器(前提:儀器必須打開)
- 按 [CAL]鍵。
顯示 "Base" (即 “未鍍過的底材”) - 在底材上測量五次左右.
每次測量后,會顯示當前的讀數(shù)。 - 按 [OK]鍵.
顯示 0.00 和 STD1 (即校準標準片 # 1). - 把校準標準片放在底材上,并測量5次左右。
每次測量后,屏幕上會顯示當前讀數(shù)。 - 用 [5] 或 [6]鍵調(diào)整第4步的zui后一個數(shù)值至標準片的標稱值, 如“75 µm”。 標準片的標稱值注明在標準片上。
- 按 [OK]鍵。
完成校準程序. 儀器返回測量狀態(tài).
7 刪除校準資料 / 恢復初始曲線
有時,如果經(jīng)過校準后,儀器測量仍然不準確,則可以刪除校準參數(shù)。如果先前的校準程序沒有正確進行的話,就可能會發(fā)生這種情況。
在這種情況下,可以把特征曲線恢復到原始的出廠設(shè)定。
刪除儀器的校準參數(shù) (前提:儀器必須打開)
- 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即 “底材”) .
- 在底材上測量5次左右.
- 按[OK]鍵. 顯示 “STD1" (即校準標準片 # 1) .
- 在底材上測量1次.
屏幕將顯示0左右的讀數(shù). - 用[5] 或 [6] 鍵將 STD1調(diào)整到 0.00 .
屏幕將顯示 “0.00 STD1” . - 按 [OK] 鍵?;謴偷匠跏嫉奶卣髑€。
恢復完成。 儀器現(xiàn)在可以測量了。
1、校正
按下,屏幕“校正”位置相對應(yīng)的按鈕。
請注意需要使用未鍍過的底材,而且底材的形狀和材質(zhì)必須和被測量的工件*。
(1)正常化(儀器歸零)→ 按OK鍵進入→ 按屏幕提示測量底材(基材)3-5次→按OK鍵確認→屏幕顯示“正
常完成成功”,再次按OK鍵完成。
(2)校正→按屏幕提示測量底材(基材)3-5次,不建議按屏幕中的“跳過”鍵跳過→按OK鍵確認→把標準片
放在前面的基材上,測量標準片 3-5 次→按“設(shè)置”鍵→進入設(shè)置界面后按↑↓鍵調(diào)整數(shù)值直到和標準片相同→按
“OK”鍵確定→以上步驟確認無誤后再按“OK”鍵至第二片標準片→校正步驟同*片→按“OK”確認。
(儀器只附帶一片標準片,第二片時可以直接跳過;如客戶有多塊標準片,校正時請按從薄到厚的順序進行校正。)
(3)簡易校準→在基材上測量200um以上的標準片3-5次左右,并設(shè)置相應(yīng)數(shù)值→按“OK”鍵完成。(此功能
只適合200um以上的涂鍍層使用)
(4)刪除校正
10 儀器及附件的訂貨資料
項目 訂貨號 DUALSCOPEÒ MP0 604-162 電池 MP0R 2x LR6.AA 1.5 V 603-534 掛帶 MP0R 603-481 探頭保護罩MP0R 603-582 塑料校準標準片 75 µm MP0R 603-479 Al-基材 MP0R 603-478 Fe-基材 MP0R 603-477 |
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