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DualScope MP0袖珍測厚儀校準

DualScope MP0袖珍測厚儀校準

更新時間:2024-09-23
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DualScope MP0袖珍測厚儀校準:僅需簡單的三步即可校準:測基材歸零位、測標準片校準、調(diào)校準數(shù)值OK!

DualScope MP0袖珍測厚儀校準的詳細資料:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾

DualScope MP0袖珍測厚儀校準

 

一、零位校準  歸一化

歸一化用來對測量儀器進行調(diào)整。歸一化需要未鍍過的底材,而且底材的形狀和物料必須和被測量的工件*。

說明:歸一化會刪除所有的內(nèi)存數(shù)據(jù)。

歸一化儀器 (前提: 儀器處于開啟狀態(tài))

  • 按 [CAL]鍵. 顯示 "Base" (即 “未鍍過的底材”).
  • 在底材上測量五次左右
    每次測量后,會顯示當前的讀數(shù)。
  • 兩次[OK] 鍵.
    屏幕顯示 “Er17”,忽略它。
    完成歸一化程序。

二、  校準

校準需要有下面幾項東西:底材(形狀和底材物料要與待測部件*)和一片標準片(儀器隨機的75 µm左右標準片)。 說明:校準將刪除內(nèi)存中的所有讀數(shù)。

校準儀器(前提:儀器必須打開)

  • 按 [CAL]鍵。
    顯示 "Base" (即 “未鍍過的底材”)
  • 在底材上測量五次左右.
    每次測量后,會顯示當前的讀數(shù)。 
  • 按 [OK]鍵.  
    顯示 0.00 和 STD1 (即校準標準片 # 1).
  • 把校準標準片放在底材上,并測量5次左右。
    每次測量后,屏幕上會顯示當前讀數(shù)。
  • 用 [5] 或 [6]鍵調(diào)整第4步的zui后一個數(shù)值至標準片的標稱值, 如“75 µm”。 標準片的標稱值注明在標準片上。
  • 按 [OK]鍵。
    完成校準程序儀器返回測量狀態(tài).

刪除校準資料 / 恢復初始曲線

有時,如果經(jīng)過校準后,儀器測量仍然不準確,則可以刪除校準參數(shù)。如果先前的校準程序沒有正確進行的話,就可能會發(fā)生這種情況。
在這種情況下,可以把特征曲線恢復到原始的出廠設(shè)定。

刪除儀器的校準參數(shù) (前提:儀器必須打開)

  • 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即 “底材”) .
  • 底材上測量5次左右.
  • 按[OK]鍵. 顯示 “STD1" (即校準標準片 # 1) .
  • 底材上測量1次.
    屏幕將顯示0左右的讀數(shù).
  • 用[5] 或 [6] 鍵將 STD1調(diào)整到 0.00 .
    屏幕將顯示 “0.00   STD1” .
  • 按 [OK] 鍵?;謴偷匠跏嫉奶卣髑€。 
    恢復完成。 儀器現(xiàn)在可以測量了。

1、校正 
按下,屏幕“校正”位置相對應(yīng)的按鈕。 
請注意需要使用未鍍過的底材,而且底材的形狀和材質(zhì)必須和被測量的工件*。 
(1)正常化(儀器歸零)→ 按OK鍵進入→ 按屏幕提示測量底材(基材)3-5次→按OK鍵確認→屏幕顯示“正
常完成成功”,再次按OK鍵完成。 
(2)校正→按屏幕提示測量底材(基材)3-5次,不建議按屏幕中的“跳過”鍵跳過→按OK鍵確認→把標準片
放在前面的基材上,測量標準片 3-5 次→按“設(shè)置”鍵→進入設(shè)置界面后按↑↓鍵調(diào)整數(shù)值直到和標準片相同→按
“OK”鍵確定→以上步驟確認無誤后再按“OK”鍵至第二片標準片→校正步驟同*片→按“OK”確認。 
(儀器只附帶一片標準片,第二片時可以直接跳過;如客戶有多塊標準片,校正時請按從薄到厚的順序進行校正。) 
(3)簡易校準→在基材上測量200um以上的標準片3-5次左右,并設(shè)置相應(yīng)數(shù)值→按“OK”鍵完成。(此功能
只適合200um以上的涂鍍層使用) 
(4)刪除校正 

 

 

 

10 儀器及附件的訂貨資料 

項目 訂貨號

DUALSCOPEÒ MP0 604-162 

電池 MP0R 2x LR6.AA 1.5 V 603-534

掛帶 MP0R 603-481

探頭保護罩MP0R 603-582

塑料校準標準片  75 µm  MP0R 603-479

Al-基材 MP0R 603-478

Fe-基材 MP0R 603-477

 

 


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