MIKROTEST G6麥考特磁性測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：

MIKROTEST G6麥考特磁性測(cè)厚儀

 測(cè)量使用要求

1、在平面上測(cè)量
測(cè)量面方位對(duì)于測(cè)量沒有影響，注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的zui 小測(cè)量范圍和基體的厚度。

2、在曲面上測(cè)量 測(cè)量圓柱或圓形邊緣時(shí)，可以利用儀器測(cè)嘴上的 V 型口。測(cè)量凹面時(shí)與測(cè)量平面相同，但要注意zui小曲率的 限制。

3、在粗糙表面測(cè)量
在粗糙表面測(cè)量時(shí)，讀數(shù)將增大（特別是在顆粒尖上）。 在特別粗糙（如峰值超過50um 的鋼基體上，并且涂層厚度超過 100um 時(shí)，實(shí)際讀數(shù)高于涂層真實(shí)厚度達(dá)20％之多。在這種情況 下應(yīng)至少測(cè)量6 次以上，得出平均值。

4、檢查度
測(cè)厚儀裝有磁鋼，在正常使用時(shí)是不會(huì)發(fā)生變化的。通常只 需偶爾或在懷疑讀數(shù)的正確性時(shí)去測(cè)量厚度標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行調(diào)整。對(duì) 于這種測(cè)量可采用EPK 公司的厚度標(biāo)準(zhǔn)件。標(biāo) 準(zhǔn)板厚度表如表二所示。

MIKROTEST： 
MIKROTEST G6  
MIKROTEST F6 
MIKROTEST S3 
MIKROTEST S5 
MIKROTEST S10 
MIKROTEST S20 
MikroTest NiFe50 
MikroTest Ni50 
MikroTest Ni100 

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