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X-RAY XDL210熒光測厚儀X-RAY XDL210熒光測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
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